Растущее влияние управления жизненным циклом кремния на надежность ИС — FAST TURN CHIP
Язык руководства:Эксперты за столом: Полупроводниковая инженерия» Прашант Готети, главный инженер Intel, Роб Эйткен, научный сотрудник Arm, Зои Конрой, главный инженер по оборудованию Cisco, Субхасиш Митра, профессор электротехники и информатики Стэнфордского университета, и Мехди Тахори, заведующий кафедрой надежных нановычислений Технологического института Карлсруэ, обсудили управление жизненным циклом кремния, его развитие и изменения, а также проблемы. Ниже приводятся […]
Растущее влияние управления жизненным циклом кремния на надежность ИС — FAST TURN CHIP Read More »